蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡主要優(yōu)勢有：靈活的探測，4步工作流程，的分析性能
將的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節省大量的時(shí)間：設置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性?xún)r(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現基礎分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是基于成熟的 Gemini 技術(shù)
Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率，通過(guò)二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。
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