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蔡司雙束電鏡CrossbeamTEM薄片制備流程

分類(lèi):公司新聞 發(fā)布時(shí)間:2022-08-23 20320次瀏覽

  蔡司雙束電鏡CrossbeamTEM薄片制備的工作流程  高效率、高質(zhì)量地完...

  蔡司雙束電鏡CrossbeamTEM薄片制備的工作流程

  高效率、高質(zhì)量地完成樣品制備

  TEM薄片制備對于幾乎每一位雙束電鏡用戶(hù)顯得至關(guān)重要。蔡司為特定位置的樣品制備提供自動(dòng)化工作流程,加工所得薄片適用于原子級別的高分辨率TEM和STEM成像和分析。導航到樣品的感興趣區域(ROI),為您從大塊樣品中提取包括感興趣區域(ROI)在內的TEM薄片,以進(jìn)行大體積切割或挖槽,并在適當的位置進(jìn)行提取和減薄。

  

導航到您的感興趣區域


  導航到您的感興趣區域。導航到您的感興趣區域

  

可選插件


  1. 自動(dòng)導航到樣品的感興趣區域(ROI)

  無(wú)需耗時(shí)搜索感興趣區域(ROI)即可開(kāi)始工作流程

  使用交換艙內的導航攝像頭定位樣本

  集成的用戶(hù)界面可以輕松導航到您的感興趣區域(ROI)

  讓您受益于SEM的大型、無(wú)失真視場(chǎng)

  

一個(gè)制備好可以進(jìn)行提取的銅樣品薄片


  2. 自動(dòng)樣品制備(ASP)可從大塊樣品中制備薄片

  通過(guò)簡(jiǎn)單的三步流程開(kāi)始制備

  定義配方,包括漂移校正、沉積以及粗磨和細磨

  FIB鏡筒的離子光學(xué)器件可實(shí)現高通量工作流程

  復制配方并根據要求重復操作,以開(kāi)始批量制備

  

蔡司Crossbeam中TEM薄片制備工作流程的一部分


  3. 提取薄片

  裝入顯微操作器并將薄片連接到其

  從大塊樣品上切下薄片

  然后可以提取薄片并可以運送到TEM網(wǎng)格

  

最終減薄后硅膠樣品的TEM薄片


  4. 減?。鹤詈笠徊胶荜P(guān)鍵,因為它決定了您的TEM薄片質(zhì)量

  該儀器的設計使您能夠實(shí)時(shí)監測減薄過(guò)程,獲得所需薄片厚度

  同時(shí)使用兩個(gè)監測器信號來(lái)判斷薄片厚度,一方面您可獲得可重復制作的最終厚度(使用SE探測器),一方面您可控制表面質(zhì)量(使用Inlens SE探測器)

  制備高質(zhì)量樣品,其非晶化可忽略不計


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