蔡司X射線顯微鏡納米級的原位實(shí)驗(yàn)填補(bǔ)了原位測試的空白

　　材料研究旨在探究在非自然環(huán)境條件或外部刺激下出現(xiàn)的特性。如果您的目標(biāo)是觀察微觀結(jié)構(gòu)的變化并將其與材料的性能相聯(lián)系，那么原位測試方法就是您的理想之選。對這些變化進(jìn)行現(xiàn)場成像，并對能代表整體特性的樣品量進(jìn)行研究，也同樣重要。

　　Xradia Ultra尤其適用于納米級的原位實(shí)驗(yàn)和成像：它可以讓您在實(shí)驗(yàn)室里對三維結(jié)構(gòu)進(jìn)行無損成像，而且樣品在實(shí)現(xiàn)納米級圖像分辨率的同時，還能實(shí)現(xiàn)足夠代表性的樣品量。

　　原位測試的近似成像分辨率，按樣品厚度和透明度分類。蔡司Xradia Ultra填補(bǔ)了SEM/TEM的納米級圖像分辨率(僅限于表面成像或極薄樣品)和微米級斷層掃描之間的空白。

　　在自然狀態(tài)下對您的樣品進(jìn)行原位觀察

　　了解形變故障和失效與局部納米級特征的關(guān)系。通過補(bǔ)充現(xiàn)有的力學(xué)測試方法，您可以深入了解跨多個長度尺度的性能。蔡司Xradia Ultra力學(xué)加載臺利用無損三維成像，以特殊的方式實(shí)現(xiàn)了壓縮、拉伸、壓痕等原位納米力學(xué)測試。這使您可以研究內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維演變，在載荷狀態(tài)下，圖像分辨率可達(dá)50 nm。

　　進(jìn)行原位加熱實(shí)驗(yàn)

　　在高溫下研究降解過程、熱膨脹和相變等納米級的材料變化。蔡司Xradia Ultra的Norcada加熱臺使您能夠?qū)Ω邷貥悠愤M(jìn)行納米級的無損三維成像。MEMS加熱器技術(shù)可在空氣中將樣品加熱至500℃， 其靈活的設(shè)計(jì)使得用同樣的部件即可實(shí)現(xiàn)樣品加熱或樣品偏壓。

　　蔡司掃描電鏡Crossbeam laser

　　盡享LaserFIB提供的快捷樣品制備優(yōu)勢

　　即使感興趣區(qū)域深埋在樣品內(nèi)部，您也能夠迅速定位您的感興趣區(qū)域(ROI)，同時，您還可以輕松制備用于使用蔡司Xradia Ultra或同步輻射測試的柱狀樣品。使用將蔡司Crossbeam FIB-SEM與超短脈沖飛秒激光相結(jié)合的LaserFIB，助您實(shí)現(xiàn)跨多個尺度的關(guān)聯(lián)工作流。例如，您可以使用先前獲得的三維X射線顯微鏡數(shù)據(jù)集找到您的感興趣區(qū)域，并用Cut-to-ROI工作流對它們進(jìn)行進(jìn)一步的分析。使用飛秒激光切割毫米級的材料并制備樣品，用Xradia Ultra進(jìn)行分析， 然后，再利用FIB-SEM的功能進(jìn)行納米和微米級的銑削、斷層掃描、成像和分析。