開(kāi)啟科學(xué)探索之門(mén)擁有蔡司 Xradia 810 Ultra X射線(xiàn)顯微鏡，您可以實(shí)現(xiàn)低至 50 nm 的空間分辨率，這是業(yè)界實(shí)驗(yàn)室 X 射線(xiàn)成像系統(tǒng)前沿的水平。

　　友碩小編了解由于無(wú)損 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用，您將會(huì)體驗(yàn)到出色的優(yōu)異性能和靈活性。創(chuàng)新的 Xradia Ultra 系列具有吸收襯度和相位襯度的功能，并使用獨(dú)有的由同步輻射光學(xué)器件改造而來(lái)的附件，在光子能量為 5.4KeV 時(shí)納米成像能力提高10倍。

　　對(duì)于中低原子序數(shù)的樣品，Xradia 810 Ultra 的低能量特性能夠獲得更好的襯度和圖像質(zhì)量。

　　Xradia 810 Ultra 在研究材料隨時(shí)間的演變(4D)中，可實(shí)現(xiàn)出色的原位和4D性能，拓展了3D X 射線(xiàn)成像技術(shù)在材料科學(xué)，生命科學(xué)，自然資源和各種工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域的局限。

　　更高分辨率、更高襯度、更快速度蔡司是全球領(lǐng)先的能在實(shí)驗(yàn)室儀器中提供 50 nm 分辨率無(wú)損三維 X 射線(xiàn)成像解決方案的廠商。

　　除吸收襯度和 Zernike 相襯技術(shù)外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運(yùn)用了改裝自同步加速器的先進(jìn)光學(xué)器件，用以為研究提供業(yè)界出眾的分辨率和襯度。通過(guò)在傳統(tǒng)成像工作流程中加入關(guān)鍵的無(wú)損分析步驟，從而讓這款創(chuàng)新型儀器實(shí)現(xiàn)了研究領(lǐng)域的突破。

　　Xradia 810 Ultra 能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對(duì)大量難于成像的材料進(jìn)行高分辨率 X 射線(xiàn)成像。借助吸收襯度和相襯技術(shù)來(lái)優(yōu)化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復(fù)合材料、燃料電池、地質(zhì)樣品及生物材料等。在先進(jìn)的同步加速器實(shí)驗(yàn)室內(nèi)引入納米級(jí) X 射線(xiàn)成像技術(shù)，蔡司 XRM 開(kāi)創(chuàng)性解決方案始終讓您走在科學(xué)研究的前列。

　　通過(guò)將納米級(jí) X 射線(xiàn)成像的速度提升一個(gè)數(shù)量級(jí)，拓展了 XRM 在科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用。對(duì)于中心顯微實(shí)驗(yàn)室而言，更快的工作流程意味著有更多的用戶(hù)能在更短的時(shí)間內(nèi)綜合利用儀器，從而利于擴(kuò)大 XRM 的用戶(hù)群。同樣，您也可以快速地重復(fù)執(zhí)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)的四維和原位研究，使這些技術(shù)的應(yīng)用面更廣。在諸如數(shù)字巖石物理技術(shù)等有針對(duì)性的應(yīng)用中，Xradia 810 Ultra 可用于評(píng)估油氣鉆探的可行性，在數(shù)小時(shí)內(nèi)提供測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)表征關(guān)鍵性參數(shù)，如孔隙度。更多產(chǎn)品信息請(qǐng)點(diǎn)擊頭像進(jìn)入主頁(yè)右側(cè)ZX