近年來雙束電鏡已經(jīng)成為納米級科學研究和工業(yè)生產(chǎn)中非常強有力的分析研究工具。學習蔡司雙束電鏡系統(tǒng)基礎(chǔ)原理課程，掌握雙束掃描電鏡工作原理及應(yīng)用方向，助力科研成長之路，為您的研究尋找新的突破。

　　? 雙束電鏡系統(tǒng)與掃描電鏡相比的差異科普

　　? 它的工作原理和操作的基本流程是什么?

　　? 它是怎樣實現(xiàn)對樣品成像、刻蝕和氣體沉積的?

　　? 通過以上這些功能，雙束電鏡都有哪些主要應(yīng)用?

　　友碩小編了解到蔡司雙束電鏡Crossbeam系列進行了升級換代，新的產(chǎn)品系列結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力。

　　蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力。無論是用于多用戶實驗平臺，還是科研或工業(yè)實驗室， 利用Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計理念，您可基于自身需求隨時升級儀器系統(tǒng)(例如使用LaserFIB進行大規(guī)模材料加工)。在加工、成像或是實現(xiàn)三維重構(gòu)分析時，Crossbeam系列將大大提升您的聚焦離子束(FIB)應(yīng)用效率。