近年來(lái)雙束電鏡已經(jīng)成為納米級科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中非常強有力的分析研究工具。學(xué)習蔡司雙束電鏡系統基礎原理課程,掌握雙束掃描電鏡工作原理及應用方向,助力科研成長(cháng)之路,為您的研究尋找新的突破。
? 雙束電鏡系統與掃描電鏡相比的差異科普
? 它的工作原理和操作的基本流程是什么?
? 它是怎樣實(shí)現對樣品成像、刻蝕和氣體沉積的?
? 通過(guò)以上這些功能,雙束電鏡都有哪些主要應用?
友碩小編了解到蔡司雙束電鏡Crossbeam系列進(jìn)行了升級換代,新的產(chǎn)品系列結合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力。
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能力。無(wú)論是用于多用戶(hù)實(shí)驗平臺,還是科研或工業(yè)實(shí)驗室, 利用Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念,您可基于自身需求隨時(shí)升級儀器系統(例如使用LaserFIB進(jìn)行大規模材料加工)。在加工、成像或是實(shí)現三維重構分析時(shí),Crossbeam系列將大大提升您的聚焦離子束(FIB)應用效率。