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蔡司掃描電鏡磁性樣品及不導(dǎo)電樣品檢測方案

分類:公司新聞 發(fā)布時間:2024-01-24 16841次瀏覽

  蔡司掃描電鏡GeminiSEM系列是一款重視技術(shù)的全面性與均衡性的產(chǎn)品  歷...

  蔡司掃描電鏡GeminiSEM系列是一款重視技術(shù)的全面性與均衡性的產(chǎn)品

  歷經(jīng)30年發(fā)展,從最初的DSM 982 GEMINI到LEO、Supra、Ultra、Merlin直至現(xiàn)今的蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM系列(查看更多)(以下簡稱蔡司GeminiSEM),依托蔡司Gemini電子光學(xué)技術(shù)(以下簡稱Gemini技術(shù))獨特的復(fù)合物鏡結(jié)構(gòu)設(shè)計,針對SEM表征難點,可以輕松實現(xiàn)一機(jī)在手,樣樣不愁的使用目標(biāo)。

  

蔡司掃描電鏡gemini


  電子束敏感、導(dǎo)電性欠缺且無法噴鍍的樣品表征

  該情況需要利用較小的加速電壓對其進(jìn)行成像觀察,蔡司GeminiSEM電子鏡筒的無交叉斑光路設(shè)計減少了電荷之間的相互作用,保證了低電壓下的分辨率。

  

蔡司場發(fā)射掃描電鏡GEMINI


  同時,鏡筒內(nèi)的Beam Booster技術(shù)可在光路中實現(xiàn)對電子束自動加減速,保證了低電壓下小束斑的穩(wěn)定性,促使了蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM在低電壓下的高分辨成像性能。

  磁性樣品表征

  

蔡司掃描電鏡


  蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM鏡筒全系均采用電磁透鏡和靜電透鏡復(fù)合物鏡結(jié)構(gòu),保障了物鏡下方無磁場泄露,在改善分辨率的同時,實現(xiàn)了低電壓下近距離高分辨觀察磁性樣品的目的。


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